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20110324 OV sensor故障分析会议

20110324 OV sensor故障問題分析會議

時間:2011-03-24 9:30 a.m.

地點:KOIDE 303

與會人:

KOIDE:Martin, 蒙東, 余映, 方壯亮, Sue

Delphi:Peter

OV:Fred, Ada, David, Inayat, Jeff

記錄人:鄧惠晶

會議內容:

1. sensor vsync故障問題分析

OV:

認為timing是導致sensor vsync故障的原因;

KOIDE的vsync故障現象與DELPHI不同,對KOIDE的試驗操作存在疑問,難以保證

KOIDE在進行試驗時的reset power off;

溫度循環時熱漲冷縮可使金手指鬆脫,導致接觸不良;

KOIDE:

溫度、電壓影響timing,但timing並非是導致vsync故障的唯一因素;OV應多考慮外圍

因素如製作工藝、IC封裝等;

講解故障檢測及推理方法(測試板在箱外,轉接板在箱內;條件設定後,當故障出現時,

將測試板與轉接板斷開,二極管壓降則證明回路導通,vsync沒有斷路),說明KOIDE的

操作時可行及可靠的。

溫度循環的熱脹冷縮導致金手指接觸不良可能為潛在原因;

DELPHI:

timing僅為其中一個potential cause;

問題較集中,vsync pin位置不靠右或左,在溫度循環熱脹冷縮時就只有vsync pin出現故

障;

connector也應考慮;

2.行動

KOIDE:

已於會議當天將分析報告發給OV,根據OV於第二天的反饋信息制定下一步計劃,并將

計劃同一天內告知DELPHI;

建議OV做sensor的驗證;

購買實驗用的數據記錄儀以監測實驗的進行;

OV:

根據KOIDE的分析報告於會議次日給KOIDE反饋信息;

列出故障的所有potential cause并進行分析;

DELPHI:

建議DELPHI按profile做溫度循環測試;同時關注其它導致sensor故障因素。

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