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20110324 OV sensor故障分析会议

20110324 OV sensor故障問題分析會議

時間:2011-03-24 9:30 a.m.

地點:KOIDE 303

與會人:

KOIDE :Martin, 蒙東 , 余映 , 方壯亮 , Sue

Delphi :Peter

OV :Fred, Ada, David, Inayat, Jeff

記錄人:鄧惠晶

會議內容:

1. sensor vsync故障問題分析

OV :

認為 timing 是導致 sensor vsync故障的原因;

KOIDE 的 vsync 故障現象與 DELPHI 不同,對 KOIDE 的試驗操作存在疑問,難以保證 KOIDE 在進行試驗時的 reset power off;

溫度循環時熱漲冷縮可使金手指鬆脫,導致接觸不良;

KOIDE :

溫度、電壓影響 timing ,但 timing 並非是導致 vsync 故障的唯一因素; OV 應多考慮外圍 因素如製作工藝、 IC 封裝等;

講解故障檢測及推理方法 (測試板在箱外,轉接板在箱內;條件設定後,當故障出現時, 將測試板與轉接板斷開,二極管壓降則證明回路導通, vsync 沒有斷路 ) , 說明 KOIDE 的 操作時可行及可靠的。

溫度循環的熱脹冷縮導致金手指接觸不良可能為潛在原因;

DELPHI :

timing 僅為其中一個 potential cause;

問題較集中, vsync pin位置不靠右或左,在溫度循環熱脹冷縮時就只有 vsync pin出現故 障;

connector 也應考慮;

2. 行動

KOIDE :

已於會議當天將分析報告發給 OV ,根據 OV 於第二天的反饋信息制定下一步計劃,并將 計劃同一天內告知 DELPHI ;

建議 OV 做 sensor 的驗證;

購買實驗用的數據記錄儀以監測實驗的進行;

OV :

根據 KOIDE 的分析報告於會議次日給 KOIDE 反饋信息;

列出故障的所有 potential cause并進行分析;

DELPHI :

建議 DELPHI 按 profile 做溫度循環測試;同時關注其它導致 sensor 故障因素 。

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